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Sebastián Montoya buscará el podio en el Campeonato Italiano de Fórmula 4

Este próximo fin de semana se estará disputando la penúltima ronda del campeonato.

Una nueva salida en el Campeonato Italiano de Fórmula 4 tendrá este fin de semana el piloto colombiano Sebastián Montoya quien confirmó su presencia en el Autódromo Internacional del Mugello situado en Florencia, región de Toscana, en Italia.

El piloto de la escudería Telmex Claro estará del 8 al 10 de octubre en lo que será la penúltima parada de esta edición del campeonato en el cual el deportista de nuestro país se encuentra en la cuarta casilla de la general.

El deportista de nuestro país ha sido una de las grandes revelaciones de esta edición del campeonato de F4 después de varios años de comenzar un proceso sin descanso en el automovilismo y hoy lo deja muy cerca de terminar en el podio de este campeonato italiano.

Previo al inicio de la preparación de esta competencia el piloto colombiano habló de las características del circuito y de todas las precauciones que se deben tomar para obtener un buen resultado en estas carreras.

“Estamos listos para la penúltima ronda del Campeonato Italiano de Fórmula 4 en Mugello, que para mí es una pista bastante buena, me gusta mucho, el año pasado tuvimos unas buenas carreras ahí. El test este año fue muy positivo, íbamos muy rápido, entonces vamos a seguir empujando, como lo hemos hecho todo el año para cerrar la temporada bien, ya que nos faltan Mugello y Monza y vamos con todo hacia adelante”, dijo el deportista.

Actualmente Sebastián Montoya se ubica en el cuarto lugar de la clasificación general con 133 puntos por eso será importante sacar un buen resultado en estas dos últimas fechas triples del campeonato para buscar entrar en el podio del campeonato.

La última parada triple de esta edición del campeonato será el último fin de semana de octubre que se correrá en Monza, que es uno de los circuitos más importantes y que siempre ha dejado buenas sensaciones para el piloto de nuestro país.

 

 

 

 

 

 

 

 

Fuente: Sistema Integrado de Información

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